Передовый УФ-фотоэмиссионный инструмент обнаруживает поверхностные загрязнения для надежного аэрокосмического склеивания
Наслег Ли développé инструмент для измерения низких уровней загрязнения на изогнутых или неправильно оформленных поверхностях. Инструмент предлагает уникальные возможности, такие как способность идентифицировать и количественно определять загрязнение и анализировать множество поверхностей одновременно. Эта информация предоставляет анализ чистоты поверхности, необходимый для более надежного клеевого склеивания в таких приложениях, как легкие самолеты.
Инструмент направляет ультрафиолетовое (УФ) излучение на поверхность, производя небольшой электрический ток. Инструмент измеряет этот ток по мере его изменения за короткий временной интервал. Анализируя ток, можно определить уровень загрязнения на поверхности и идентификацию вида загрязнителя.
NASA активно ищет лицензиатов для коммерциализации этой технологии. Пожалуйста, свяжитесь с консьержем лицензирования NASA по адресу This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it. или звоните нам по 202-358-7432 для начала лицензионных обсуждений. Следуйте по этой ссылке здесь для дополнительной информации.
Датчик
- Как выбрать правильные ручки приборов для вашего оборудования
- Продвинутый анализ форм волн с Winscope: От временной области к частотной
- Настройка AC-анализа в SPICE: кривые, точки и параметры частотного сканирования
- Анализ отказов компонентов: методики поиска неисправностей в последовательных и параллельных цепях
- Саксофон: история, дизайн и современное производство
- Дульцимер: история, дизайн и мастерство вечного инструмента
- Глубинная термография: Точное измерение внутренней температуры 3D материалов
- Освоение тонких параллельных оптик: преодоление подводных камней измерения с точностью
- Понимание допуска плоскости в GD&T: обеспечение точного производства деталей
- ГОСТ и ТО: Профиль линии vs Профиль поверхности — разъяснение