Анализ фотоиндуцированной эмиссии для выявления поверхностных загрязнений
НАСА Лэнгли разработало прибор для измерения низких уровней загрязнения на изогнутых поверхностях или поверхностях неправильной формы. Прибор предлагает уникальные возможности, такие как способность идентифицировать и количественно определять загрязнение и одновременно анализировать несколько поверхностей. Эта информация обеспечивает анализ чистоты поверхности, необходимой для более надежного склеивания, например, в легких самолетах.
Прибор направляет ультрафиолетовое (УФ) излучение на поверхность, производя слабый электрический ток. Прибор измеряет этот ток по мере его изменения в течение короткого промежутка времени. Анализируя течение, можно определить уровень загрязнения на поверхности и идентифицировать виды загрязняющих веществ.
НАСА активно ищет лицензиатов для коммерциализации этой технологии. Пожалуйста, свяжитесь с консьержем НАСА по лицензированию:Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. или позвоните нам по телефону 202-358-7432, чтобы начать обсуждение лицензирования. Перейдите по этой ссылке здесь Чтобы получить больше информации.
Датчик
- Как выбрать инструментальные ручки
- Анализ формы волны
- Параметры анализа
- Анализ отказов компонентов
- Саксофон
- Дульцимер
- Метод измерения температуры внутри трехмерных объектов
- Преодоление ловушек при измерении тонкой параллельной оптики
- Допуск плоскостности в GD&T
- Профиль линии против профиля поверхности