Система определения характеристик микрополосковых цепей и материалов

Определение характеристик микрополосковой сверхпроводящей пленки на частотах миллиметровых волн затруднительно без сложного процесса изготовления тонкой пленки. Эта характеристика включает измерение омических потерь с разрешением 10 100 частей на миллион (ppm).

Как правило, для характеризации микрополосковой сверхпроводящей пленки используются болометры с антенной связью как часть структуры сверхпроводящей пленки. Болометры — это компоненты, которые измеряют падающее электромагнитное излучение посредством нагревания материала с электрическим сопротивлением, зависящим от температуры; однако этот процесс невыгоден, поскольку встроенные детекторы, такие как болометры, усложняют процесс изготовления сверхпроводящей пленки. Этот процесс также требует различных компонентов миллиметрового диапазона, что еще больше усложняет изготовление пленки. Кроме того, определение характеристик сверхпроводящей пленки требует специального оборудования и может различаться в зависимости от различных производственных процессов.

Система определения характеристик микрополосковых цепей и материалов может измерять омические потери в сверхпроводящей пленке на частотах миллиметровых волн с помощью векторного анализатора цепей (ВАЦ), который измеряет амплитудные и фазовые свойства сетевых параметров пленки.

Система состоит из двухпортовой волноводной структуры. Порты используются для передачи и приема энергии миллиметрового диапазона в сверхпроводящую пленку и из нее. Волноводная структура используется для преобразования характеристического импеданса волновода в импеданс микрополосковой линии в широком диапазоне частот для установления контакта со сверхпроводящей пленкой. Сверхпроводящая пленка содержит микрополосковые резонаторы, которые можно использовать для измерения омических потерь и эффективной диэлектрической проницаемости на различных частотах.

Система функционирует путем подключения к передатчику и приемнику миллиметрового диапазона. Система используется для измерения потерь передачи образца микрополосковой линии. Для измерения сверхпроводящей микрополосковой пленки устройство необходимо охладить ниже критической температуры сверхпроводника, чтобы измерить омические потери в пленке и постоянную распространения линии передачи. Система может использоваться для измерения потерь в микрополосковой линии до 10 частей на миллион и может работать в диапазоне температур от 0 до 320 К.

НАСА активно ищет лицензиатов для коммерциализации этой технологии. Пожалуйста, свяжитесь с консьержем НАСА по лицензированию:Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. или позвоните нам по телефону 202-358-7432, чтобы начать обсуждение лицензирования. Перейдите по этой ссылке здесь для получения дополнительной информации .