Изготовление сверхпроводящих схем на обеих сторонах ультратонкого слоя кремния
Новая методология изготовления позволяет удовлетворить потребность в тонкой двусторонней печатной плате, обеспечивающей низкие перекрестные помехи между датчиками и низкие потери в линиях передачи.
Метод изготовления позволяет использовать минималистическую кремниевую пластину в качестве печатной платы, уменьшая пространство и повышая эффективность за счет нанесения сверхпроводящего материала с обеих сторон. Из-за тонкости кремниевой пластины во время изготовления этой схемы требуется дополнительная пластина с опорной ручкой, чтобы можно было наносить тонкую металлическую пленку на горячую подложку с одной стороны пластины. Кроме того, металлический и полимерный расходуемый слой используется для защиты кремниевой подложки и сверхпроводящих металлических слоев во время удаления нежелательных слоев кремния, скрытого оксида и эпоксидной смолы.
Этот процесс представляет методологию изготовления, необходимую для реализации линий передачи со сверхнизкими потерями и сверхнизкими перекрестными помехами между сверхпроводящими датчиками.
НАСА активно ищет лицензиатов для коммерциализации этой технологии. Пожалуйста, свяжитесь с консьержем НАСА по лицензированию:Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. или позвоните по телефону 202-358-7432, чтобы начать обсуждение лицензирования. Перейдите по этой ссылке здесь Чтобы получить больше информации.
Датчик
- Введение в производство металлов
- Кремний
- Упрощение изготовления датчиков с помощью клеевых составов
- Использование солнечной технологии для питания интеллектуальных устройств в помещении
- Производство высокотемпературных операционных усилителей на основе карбида кремния
- Медицинские тесты для смартфонов
- Этот светодиод можно интегрировать непосредственно в компьютерные чипы
- Гибкие органические фотодиоды большой площади могут конкурировать с кремниевыми устройствами
- Система определения характеристик микрополосковых цепей и материалов
- Измерение толщины слоя с помощью микроскопа