Renesas запускает 28 нм автомобильный MCU с виртуализацией-помощными функциями безопасности

Renesas Electronics объявила об успешной верификации передового автомобильного тест-чипа, прокладывая путь для следующего поколения флеш-микроконтроллеров, построенных на 28 нм низкоэнергетическом процессе.

Прототип микроконтроллера обладает четырьмя 600 МГц ядрами в lock-step конфигурации, щедрыми 16 МБ флеш-памяти и набором виртуализации-помощных функций, позволяющих множественным программным компонентам сосуществовать на одном чипе без интерференций. Эта способность встречает строгие требования ISO 26262 ASIL D, высшего уровня автомобильной целостности безопасности.

Для поддержки ASIL D соответствия чип включает передовитую встроенную систему самопроверки (BIST), включая standby-resume BIST (SR-BIST), работающую во время циклов power-down для обнаружения ошибок. Улучшенные сетевые функции, такие как Gigabit Ethernet интерфейс, предоставляют высокоскоростной трансфер данных для сенсорных полезных нагрузок.

Renesas покажет результаты тестов в сессии под названием "A 28 nm 600 MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next-Generation Automotive Architecture Complying with ISO 26262 ASIL D" на International Solid-State Circuits Conference 18 февраля 2019 года.

Строя на этой валидированной технологии, Renesas планирует ускорить разработку новых 28 нм флеш MCU, укрепляя свою приверженность эко-дружественным, автономным автомобилям и более безопасному, более защищенному водительскому опыту.